作者:标准资料网 时间:2024-05-13 09:31:34   浏览:8672   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part5-4:Optoelectronicdevices-Semiconductorlasers
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第5-4部分:光电器件.半导体激光器
【标准号】:IEC60747-5-4-2006
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2006-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:频带宽度;定义;分立器件;电性能和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;激光器;发光强度;测量技术;光电子器件;额定值;半导体器件
【英文主题词】:Bandwidths;Definitions;Discretedevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Lasers;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Ratings;Semiconductordevices
【摘要】:ThispartofIEC60747dealswiththeterminology,theessentialratingsandcharacteristicsaswellasthemeasuringmethodsofsemiconductorlasers.
【中国标准分类号】:L51
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:59P.;A4
【正文语种】:英语