DIN 41792 Bb.4-1972 用于通讯技术的半导体元件.Z二极管测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-15 11:53:11
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【英文标准名称】:Lowpowersemiconductordevices;measuringmethods,voltagereferenceandregulatordiodes
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.Z二极管测试方法
【标准号】:DIN41792Bb.4-1972
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1972-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;测量技术;半导体;二极管
【英文主题词】:measurement;diodes;measuringtechniques;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:2380
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.Z二极管测试方法
【标准号】:DIN41792Bb.4-1972
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1972-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;测量技术;半导体;二极管
【英文主题词】:measurement;diodes;measuringtechniques;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:2380
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语
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